?基于XPS濺射深度剖析定量方法的開放實(shí)驗(yàn)實(shí)踐

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摘  要  在“雙一流”建設(shè)新時(shí)期，為了發(fā)揮大型精密儀器設(shè)備在本科生人才培養(yǎng)中的作用，依托公共實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的X射線光電子能譜儀（XPS），實(shí)施基于XPS濺射深度剖析定量方法的開放實(shí)驗(yàn)教學(xué)。實(shí)驗(yàn)中以本科生為主體，關(guān)注實(shí)際應(yīng)用難題并以解決現(xiàn)實(shí)問(wèn)題為目標(biāo)，引導(dǎo)學(xué)生獨(dú)立查閱資料和文獻(xiàn)，并深入理解相關(guān)理論知識(shí)，熟悉儀器和方法應(yīng)用的科研環(huán)境，鼓勵(lì)學(xué)生掌握儀器操作步驟；后期通過(guò)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)流程，描述材料性能表征方式和數(shù)據(jù)解析方法，最終形成方法報(bào)告。（剩余6845字）