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摘 要：本文針對(duì)在掃描電子顯微鏡測(cè)試中具備表面和截面雙重需求，同時(shí)屬于塊體或薄膜狀、需避免損壞的弱導(dǎo)電性樣品提供一種簡(jiǎn)單而高效的測(cè)試方案。該方案可以減少金屬噴涂的次數(shù)和資源損耗，并有效地防止在樣品制備和測(cè)試過程中對(duì)樣品造成損害。通過這一方案，我們旨在提高測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性，為掃描電子顯微鏡分析提供更為可靠的樣品測(cè)試方法。（剩余3849字）
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掃描電子顯微鏡對(duì)于表面截面同時(shí)需求類樣品的測(cè)試方案研究
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