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摘 要:常規(guī)的數(shù)字溫度傳感器芯片測試通常需要使用支持該芯片通信協(xié)議的上位機進(jìn)行初步配置,再通過專門的測試設(shè)備進(jìn)行集成電路測試。然而,這種方式存在硬件復(fù)雜、流程繁瑣等缺點,導(dǎo)致其測試成本增加,批量測試難度提高。為此,介紹了一種基于兩線制通信時序的數(shù)字ATE(自動化測試設(shè)備)測試方法,用于生成數(shù)字溫度傳感器的主要功能測試向量。(剩余4764字)
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基于ATE的SIP數(shù)字溫度傳感器測試方法
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