改進(jìn)YOLOv5s PCB板缺陷檢測(cè)算法

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摘要：當(dāng)前PCB板缺陷檢測(cè)存在檢測(cè)效率低、漏檢或誤檢率高、檢測(cè)精度不夠等問題，以YOLOv5s為基礎(chǔ)算法，提出改進(jìn)算法YOLOv5s-DS。該改進(jìn)算法首先通過融入DSConv深度可分離卷積進(jìn)行特征提取，降低網(wǎng)絡(luò)參數(shù)計(jì)算量。其次，采用SIOU損失函數(shù)替換GIOU損失函數(shù)，提升算法精度，加快收斂速度。研究結(jié)果表明，該改進(jìn)算法有效地提升了PCB板缺陷檢測(cè)的精度和檢測(cè)速度，降低了漏檢率，為PCB板缺陷檢測(cè)提供了參考。（剩余5753字）