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摘 要:三代測序技術(shù)憑借其高平均讀長和短測序周期等優(yōu)勢而成為當(dāng)前基因測序的主要發(fā)展方向,然而,錯誤隨機性和15%的測序錯誤率不可避免地對基因序列的進一步分析產(chǎn)生影響。文章針對已有糾錯方法的不足,提出一種基于眾包標(biāo)注的三代測序數(shù)據(jù)糾錯方法CTDC。CTDC將可信度較高的二代測序數(shù)據(jù)作為標(biāo)注工作者,結(jié)合其一致度、能力和準(zhǔn)確度對待標(biāo)注的三代測序數(shù)據(jù)位點進行校正。(剩余8465字)
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基于眾包標(biāo)注的三代測序數(shù)據(jù)的糾錯方法研究
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