面向水稻穗上谷粒原位計數與遮擋還原的輕量級I2I 深度學習方法

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摘要： 【目的】為解決傳統(tǒng)水稻考種機谷粒表型分析算法在功能和效率上的局限性，針對穗上谷粒原位計數和被遮擋谷粒幾何特征還原設計一種基于深度學習的輕量級通用算法框架?！痉椒ā繉⑺肷瞎攘Ｔ挥嫈蹬c被遮擋谷粒還原這2 個復雜任務分別拆解為2 個階段，將其核心階段建模為I2I 問題?；贛obileNet V3 設計1 種能夠解決I2I 問題的輕量級網絡架構，并針對2 個任務的特點分別設計了數據集圖像制作方法，選擇合適的優(yōu)化策略和超參數對其進行訓練。（剩余2245字）