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摘要：存儲器應用廣泛，使用量大，發(fā)展迅速，隨著近年來存儲芯片容量不斷增大，故障檢測難度與成本也逐漸上升。從存儲器的故障模型和測試技術(shù)出發(fā)，對比分析了不同測試算法的特點，以便在實際檢測中選擇合理的測試算法，同時提出了一種改進型的測試算法，在基本不改變測試時間長度的情況下增加了故障檢測類型，是一種簡單可行的方法。（剩余4367字）
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存儲器故障測試算法分析與研究
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