基于深度學(xué)習(xí)的目標(biāo)檢測研究

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摘  要：目標(biāo)檢測是機(jī)器視覺領(lǐng)域的核心問題。經(jīng)過多年的發(fā)展，以深度學(xué)習(xí)技術(shù)為基礎(chǔ)的目標(biāo)檢測方法已成為研究熱點(diǎn)。根據(jù)檢測的原理和過程，目標(biāo)檢測可分為一階段目標(biāo)檢測和二階段目標(biāo)檢測。首先，在進(jìn)行廣泛文獻(xiàn)調(diào)研的基礎(chǔ)上，對比目前主流目標(biāo)檢測方法的原理、思路，其次，使用mAP和FPS兩個參數(shù)對比各方法的檢測效果，分析常見目標(biāo)檢測方法的優(yōu)缺點(diǎn)；最后，對目標(biāo)檢測的發(fā)展做出預(yù)測和展望。（剩余16319字）