一種SOC芯片的SLT測試硬件系統(tǒng)設計

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摘要：文中提出了一種SOC芯片系統(tǒng)級測試的新硬件測試系統(tǒng)。新系統(tǒng)引入FPGA作為輔助測試的芯片，使用PC作為芯片分選機和測試硬件之間的媒介進行測試，并記錄測試數(shù)據(jù)。新硬件系統(tǒng)導入后，使用現(xiàn)有的SOC芯片作為樣本，從測試覆蓋率、測試時間、不良分析三個方面展現(xiàn)芯片品質(zhì)管控中的收益。

關鍵詞：系統(tǒng)芯片；芯片測試；硬件設計；品質(zhì)改善

Design of an SLT Testing Hardware System for SOC Chips

NIE Zhenkun

（ Rockchip Electronics Co.， Ltd. Fuzhou 350001， Fujian， China ）

Abstract： This article proposes a new hardware testing system for system-level testing of SOC chips. The new system introduces FPGA as an auxiliary testing chip， uses PC as the medium between the chip sorting machine and the testing hardware for testing， and records the test data. After the introduction of the new hardware system， the existing SOC chips are used as samples to demonstrate the benefits of chip quality control from testing coverage， testing time， and defect analysis.

Key Words：  System chip; Chip testing; Hardware design; Quality improvement

0引言

系統(tǒng)級芯片（SOC）也稱為片上系統(tǒng)，即在一顆芯片上，集成了邏輯模塊、存儲模塊、模擬模塊、模數(shù)混合模塊等。（剩余3656字）