基于磁場調制的原子磁強計單光束檢測翟慧慧

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關鍵詞：原子磁強計；磁場調制；單光束；弱磁檢測

中圖分類號：TM 936 文獻標志碼：A

引言

全光法原子磁強計是通過光泵浦對堿金屬原子進行極化，然后通過檢測探測光的旋轉角度或原子氣室中透射光的強度來獲得外界磁場大小的光學儀器[1]。全光法原子磁場測量技術已經(jīng)成為新一代超高靈敏磁場測量技術[2]。無自旋交換弛豫（spin-exchange relaxation free，SERF）原子磁場測量裝置基于SERF理論，實現(xiàn)了迄今低頻范圍內磁場測量的最高靈敏度[3-4]。（剩余2890字）