面向光芯片測試的ATE數(shù)據存儲傳輸系統(tǒng)的設計

打開文本圖片集

文章編號：1005-5630（2024）05-0031-09 DOI：10.3969/j.issn.1005-5630.202310260120

摘要：光芯片是在光纖系統(tǒng)中實現(xiàn)光電信號轉換的重要器件，因此在生產制造完成后需要經過大量測試。集成電路自動測試設備（auto test equipment，ATE）是現(xiàn)今芯片測試中所使用的主要設備，在對光芯片測試時有自動化程度高、精度高、測試范圍廣、速度快等優(yōu)勢。（剩余10514字）